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题名:
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现代光电测试技术 [ 专著] xian dai guang dian ce shi ji shu / 郝群[等]编著 , |
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ISBN:
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978-7-5682-8378-6 价格： CNY48.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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171页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 北京理工大学出版社有限责任公司 出版日期： 2020 |
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内容提要:
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本书以光电被测对象为主线，较全面地介绍了光学量和几何量测量中所涉及的基本理论，主要测量原理、方法，主要测量仪器的组成及主要技术特点。在保留经典测量方法的同时，介绍了当代国内外主流的、代表未来发展方向的光电测量原理和仪器，如同步移相干涉测试技术等。 |
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主题词:
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光电检测 测试技术 |
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中图分类法:
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TN206 版次： 5 |
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主要责任者:
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郝群 hao qun 编著 |
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附注:
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北京理工大学“双一流”建设精品出版工程 |
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索书号:
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TN206/glg4718 |