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题名:
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IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测 IGBT pi lao shi xiao ji li ji qi jian kang zhuang tai jian ce / 肖飞 ... [等] 编著 , |
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ISBN:
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978-7-111-63407-2 价格： CNY59.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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232页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2019 |
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内容提要:
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本书通过详细分析IGBT芯片与封装疲劳失效机理，在研究失效特征量随疲劳老化时间变化规律的基础之上，通过将理论分析与解析描述相结合，建立了IGBT相关电气特征量的健康状态监测方法，对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态进行有效评估。 |
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主题词:
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绝缘栅场效应晶体管 疲劳机理 |
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中图分类法:
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TN386.2 版次： 5 |
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主要责任者:
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肖飞 xiao fei 编著 |
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主要责任者:
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刘宾礼 liu bin li 编著 |
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主要责任者:
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罗毅飞 luo yi fei 编著 |
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索书号:
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TN386.2/glg9012 |