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题名:
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薄液膜下锡的腐蚀和电化学迁移行为 [ 专著] bo ye mo xia xi de fu shi he dian hua xue qian yi xing wei / 钟显康，扈俊颖著 , |
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ISBN:
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978-7-5024-8327-2 价格： CNY48.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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122页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 冶金工业出版社 出版日期： 2019 |
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内容提要:
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本书从腐蚀失效的基本原理出发，结合电子互连材料的服役环境，研究了锡在薄液膜下的腐蚀行为，揭示了锡的薄液膜腐蚀机理。在前人工作的基础上,建立了研究电化学迁移的新方法，探讨了稳态电场下锡的电化学迁移行为，揭示了液膜厚度、氯离子浓度、偏压等因素作用下锡的电化学迁移规律和机理。 |
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主题词:
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锡合金 大气腐蚀 |
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主题词:
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锡合金 电化学反应 |
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中图分类法:
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TG146.1 版次： 5 |
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主要责任者:
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钟显康 zhong xian kang 著 |
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主要责任者:
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扈俊颖 hu jun ying 著 |
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索书号:
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TG146.1/glg8560 |