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题名:
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数字电路测试技术 shu zi dian lu ce shi ji shu / 李志勇，李小颖主编 , 蔡灏[等]编写 |
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ISBN:
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978-7-5198-2681-9 价格： CNY20.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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72页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 中国电力出版社 出版日期： 2019 |
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内容提要:
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本书以实验为主线，共分为2部分17个实验项目，以适应不同专业、不同层次学生的实验教学要求。主要内容如下：第1部分为数字电路测试实验基础知识，内容包括集成电路外引线识别、数字电路中逻辑信号的高低电平、数字电路常用逻辑符号及集成电路命名法；第2部分为数字电路测试技术实验，内容包括TTL集成逻辑门功能与参数测试、组合逻辑设计、时基电路波形产生与整形、智力竞赛抢答装置改进等。 |
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主题词:
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数字电路 电路测试 |
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中图分类法:
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TN79 版次： 5 |
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主要责任者:
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李志勇 li zhi yong 主编 |
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主要责任者:
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李小颖 li xiao ying 主编 |
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次要责任者:
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蔡灏 cai hao 编写 |
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附注:
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“十三五”普通高等教育规划教材 |
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索书号:
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TN79/glg4041 |