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题名:
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纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化 [ 专著] na mi shu zi ji cheng dian lu de pian cha xiao ying fen xi yu you hua / 靳松，韩银和著 , |
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ISBN:
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978-7-302-52299-7 价格： CNY69.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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181页 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 清华大学出版社 出版日期： 2019 |
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内容提要:
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本书主要涉及在纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应——负偏置温度不稳定性和制造过程中引起的参数偏差。介绍了参数偏差效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响，并提出了从电路级到系统级的相应的分析、预测和优化方法。 |
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主题词:
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纳米材料 数字集成电路 |
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中图分类法:
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TN431.2 版次： 5 |
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主要责任者:
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靳松 jin song 著 |
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主要责任者:
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韩银和 han yin he 著 |
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索书号:
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TN431.2/glg4248 |