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题名:
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数字电路老化预测与容忍 [ 专著] shu zi dian lu lao hua yu ce yu rong ren / 徐辉著 , |
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ISBN:
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978-7-312-04359-8 价格： CNY30.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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123页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 合肥 出版社： 中国科学技术大学出版社 出版日期： 2018 |
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内容提要:
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本书围绕负偏置温度不稳定性引起的集成电路老化的预测与动态电路老化防护来展开研究，主要针对集成电路老化的预测和集成电路老化的容忍进行分析；对于高性能集成电路中常用的多米诺电路，针对其老化研究容忍方法，并提出对多米诺电路低功耗与抗老化的联合优化方法。 |
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主题词:
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数字集成电路 研究 |
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中图分类法:
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TN431.2 版次： 5 |
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主要责任者:
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徐辉 xu hui 著 |
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附注:
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国家自然科学基金青年科学基金项目、国家公派高级研究学者、访问学者、博士后项目、安徽省高校省级自然科学研究重大项目资助出版 |
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索书号:
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TN431.2/glg2897 |