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题名:
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现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应 xian dai ji cheng dian lu he dian zi xi tong de di qiu huan jing fu she xiao ying / (日) Eishi H. Ibe著 , 毕津顺, 马瑶, 王天琦译 |
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ISBN:
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978-7-121-35115-0 价格： CNY79.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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210页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2019 |
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内容提要:
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本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响, 涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射, 包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子, 从物理角度建模, 以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。作者还展示了如何对在凝聚态物质中复杂的辐射效应进行建模, 以量化和减少其影响, 并解释了在环境辐射中包括服务器和路由器在内的电子系统是如何失效的。 |
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主题词:
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集成电路 全球环境 |
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主题词:
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电子系统 全球环境 |
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中图分类法:
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TN4 版次： 5 |
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中图分类法:
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TN103 版次： 5 |
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主要责任者:
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伊部英治 yi bu ying zhi 著 |
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次要责任者:
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毕津顺 bi jin shun 译 |
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次要责任者:
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马瑶 ma yao 译 |
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次要责任者:
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王天琦 wang tian qi 译 |
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索书号:
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TN4/glg2704 |