题名:
数字集成电路功耗与测试综合优化
/ 孙强著 ,
ISBN:
978-7-302-45560-8 价格：
语种:
CHI
出版发行:
出版地： 出版社：
清华大学出版社
出版日期： 2016
中图分类法:
TN431.2 版次：