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题名:
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Characterization in compound semiconductor processing = 化合物半导体加工中的表征 / / [editors], Gary E. McGuire, Yale E. Strausser. , |
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ISBN:
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9787560342818 : 价格： |
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语种:
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ENG |
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出版发行:
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出版地： 出版社： Harbin Institute of Technology Press, 出版日期： 2014. |
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中图分类法:
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TN304.2 版次： |